与GaN中缺陷相关的室温光荧光谱

摘要：

利用GaN外延材料表面和界面的室温PL谱，观察并分析了带边峰的结构和与缺陷相关的束缚激子峰。

关键词： GaN外延材料 缺陷 室温PL谱 束缚激子峰

作者: 朱建军 刘素英 史永生 杨辉

作者单位: 中国科学院半导体研究所光电工艺中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国固体薄膜学术会议

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 152～154

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）