压力传感器冲击压力作用下温度结构效应的检测技术
传感器接壤的介质受到冲击压力作用时，温度会突然升高。冲击和温度会对传感器内部结构性能产生影响，引起测量值的严重偏差。用激波管法、快启阀门法和落锤冲击法因其各自固有的特点无法检测传感器的冲击温度结构效应。该文介绍用高精度、超高压、气动正阶跃压力发生器对传感器冲击温度效应的检测方法。该装置的阶跃压力上升时间为１００μｓ可调，阶跃压力可达１０００ＭＰａ以上，动态幅值误差（不平度）为２５ｓ内维持０．２℅不变，在２．５分钟内小于２℅，能充分揭示传感器的冲击温度结构效应。
冲击温度结构效应 压力传感器 正阶跃压力产生装置
方继明 张训文 刘向阳
理工大学
国内会议
大连
中文
392～396
1998-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）