电子系统可靠性增长和失效密度自适应神经网络模型

摘要：

该文利用自适应神经网络对电子系统可靠性增长和失效密度分布进行拟合。对电子系统失效时间序列进行分析，可以发现时间序列存在混沌吸引子。根据时间序列的嵌入维，确定神经网络的输入数，建立三层ＢＰ神经网络。分析和仿真结果表明：此方法比其它方法有更好的拟合和预测结果。

关键词： 自适应神经网络 可靠性增长 失效密度 混沌吸引子

作者: 史彩成 赵保军 韩月秋

作者单位: 理工大学电子工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国信号处理学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 110～113

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）