会议专题

半导体存储器测试系统的新进展

该文以半导体存储器的工艺进步和市场需求为背景,介绍了超大规模存储器测试系统在体系结构测试技术及测试方法等方面的最新进展。

自动测试设备 算法图形产生器 半导体存储器

刘鸿琴

计算技术研究所

国内会议

第十届全国计算机信息存储技术年会

无锡

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15~18

1998-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)