自动测试设备的可靠性设计

摘要：

对自动测试设备的可靠性设计进行了研究，给出了实现其硬件、软件可靠性设计的相应措施。

关键词： 自动测试设备 可靠性设计

作者: 邓斌 杨江平

作者单位: 空军雷达学院装备研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 177～179

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）