面向新世纪的电子对抗ATE

摘要：

随着电子对抗装备复杂性的日益提高，对抗形势瞬息万变，传统的人工测试，故障诊断方式已不能满足技术保障的要求。基于 VXI结构的ATE（Automatic Test Bquipment）自动测试设备的发展为研究人员提供了良好的技术手段，将其用于电子对抗装备迫在眉睫。

关键词： 自动测试设备 电子对抗装备

作者: 高卫东 尹学忠

作者单位: 军电子工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: ”98计量测试学术研讨会

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 118～122

在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）