质谱分析多系统航天器检漏工艺研究(摘要)

关键词： 质谱分析多系统 航天器检漏工艺 检漏率

作者: 闫荣鑫 刘平 冯琪 洪晓鹏 李睿 黄锡宁

作者单位: 北京卫星制造厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国真空学会质谱与检漏专委会第十届年会中国计量测试学会真空校准专委会第五届年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 19-20

在线出版日期: 2001-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）