用Monte-Carlo方法计算正电子湮没寿命谱中的衬底效应

摘要：

该文用Monte-Carlo方法模拟计算出<”22>Na源的正电子在不同厚度Mylar膜、Ni膜衬底中的湮没几率；得出了衬底效应小于5℅的Mylar膜厚度，说明了对PE、PP样品衬底效应较Si、Fe等样品强。

关键词： 正电子湮没寿命谱 衬底效应

作者: 雷海乐 应三丛 张一云 徐家云

作者单位: 四川大学物理系

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第七届正电子湮没学术会议

会议地点: 泉州

会议语种:中文

页码: 133-135

在线出版日期: 1999-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）