会议专题

用正电子寿命谱诊断微晶和非晶的结构

正电子寿命谱 诊断微晶 非晶

郁伟中

清华大学现代应用物理系(北京)

国内会议

全国第七届正电子湮没学术会议

泉州

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143-143

1999-04-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)