纳米TiO<,2>粉晶的界面缺陷研究

摘要：

用溶胶--凝胶法(Sol-gel)制备了纳米TiO<,2>微粉。用正电子湮没寿命谱(PAS)研究了纳米TiO<,2>的界面结构。PAT研究表明，Sol-gel法制备的纳米TiO<,2>微粉中只存在两类缺陷，即与短寿命成分τ<,1>对应的单空位尺寸的自由体积缺陷,及与中等寿命成分τ<,2>对应的微孔洞缺陷。其缺陷数目及浓度随着热处理温度及粒子尺寸的改变有着显著的改变，表现出温度效应和尺寸效应。

关键词： 正电子 缺陷 纳米微粉

作者: 尹荔松 周歧发 吴奕初 林光明 张进修

作者单位: 中山大学物理系(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第七届正电子湮没学术会议

会议地点: 泉州

会议语种:中文

页码: 45-48

在线出版日期: 1999-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）