用FDTD方法分析单片集成电路管壳封装的谐振效应

摘要：

该文使用ＦＤＴＤ方法对单片集成电路管壳封装的谐振效应进行了分析，计算了一种管壳的谐振特性，并给出了其中两个谐振模式的场分布图。该文在分析中采用点激励源，激励函数选用了高斯调制脉冲。所得结果是进行单片集成电路管壳结构尺寸设计的理论依据。

关键词： FDTD管壳封装 谐振效应

作者: 柏兵 杨铨让

作者单位: 大学毫米波国家重点实验室(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 微波学会第三届全国毫米波亚毫米波学术会议

会议地点: 贵阳市

会议语种:中文

页码: 52～56

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）