锗/硅纳米周期超晶格的X射线双晶衍射
用X射线双晶衍射对气源分子束外延(GS-MBE)制备的锗/硅纳米周期超晶格(NPS)样品进行了分析。发现对硅层厚度较小的样品,双晶衍射摇摆曲线中由超晶格引起的衍射峰较宽,且看不到干涉引起的精细结构,对硅层较厚的样品,摇摆曲线中超晶格引起的衍射峰较窄,并有明显的由干涉产生的精细结构,对硅层厚度在2.1 ̄2.9nm之间的样品,超晶格对应的衍射峰可以分解为两个宽度不等的子峰。
锗硅 纳米材料 外延生长 超晶格 X射线衍射分析
季振国 卢焕明 宇佐美德隆
大学硅材料国家重点实验室(杭州) 大学先端科学技术研究中心
国内会议
北京
中文
416~418
1999-01-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)