关键词： 在片测试探头 微波单片集成电路 测试技术
作者: 周凌云 王卫东 樊德森
作者单位: 科学技术大学电子工程与信息科学系
会议类型: 国内会议
会议名称: 1999年全国微波毫米波会议
会议地点: 长沙
会议语种:中文
页码: 489～491
在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）