电子器件不同材料界面对X射线的响应

摘要：

介绍了X射线在原子序数相差较大的两种材料构成界面中的行为,分析了这种行为对电子器件性能产生的影响.采用Monte-Carlo方法定量计算了这种行为的影响,提出了进行修正的措施.

关键词： X射线 Monte-Carlo方法 电子器件 材料界面 辐射损伤 剂量增强效应

作者: 牟维兵 陈盘训

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 465-469

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）