大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

摘要：

提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法.在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理.给出了大规模集成电路:静态随机存取存储器(SRAM)、电擦除电编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器(FLASH ROM)和微处理器(CPU)的<”60>Coγ总剂量效应实验的结果.

关键词： 存储器 微处理器 <”60>Coγ源 总剂量效应 大规模集成电路 测试方法

作者: 贺朝会 耿斌 姚育娟 何宝平 李永宏 彭宏论 林东生 周辉 陈雨生

作者单位: 西北核技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 433-436

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）