BESⅡμ子计数器离线数据的刻度研究

摘要：

介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构以及μ子计数器离线刻度的基本原理.概述了双μ事例的挑选、μ计数器刻度常数的产生流程、Z向分辨率、几种刻度方法的异同点和改进过程.用几种刻度方法对同一批数据做了刻度以进行相互比较,并给出造成这种Z向分辨率差异的原因.

关键词： 北京谱仪 μ计数器 离线刻度 电荷分配法 刻度方法

作者: 黄亮 毛泽普 赵维仁

作者单位: 湖南大学应用物理系微电子(长沙) 中国科学院高能物理研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 215-219

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）