高能X射线成像系统中阵列探测器的串扰研究

摘要：

当利用高密度线形阵列探测器对高能X射线成像时,探测器单元间的串扰将直接影响系统的成像质量.分析了由CdWO<,4>晶体耦合光电二极管所组成的线形阵列中探测器单元间串扰的影响因素,采用蒙-卡计算,对其在高能加速器下的串扰大小进行了估算,并和测量值进行了比较,二者能很好地吻合.

关键词： X射线成像 钨酸镉晶体 串扰 阵列探测器

作者: 李玉兰 李元景 王少锋 楼棋 许荔柏 李树伟 张清军

作者单位: 清华大学工程物理系(北京) 清华大学同方威视技术股份有限公司(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 196-198

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）