NaI(Tl)探测器系统在俘获法测量中子中的应用

摘要：

本文介绍了用于俘获法测量中子的NaI(Tl)探测器和铅屏蔽室,以及该探测器系统在俘获法测量中子的应用,测量了俘获片上的γ射线,研究了俘获探测器性能.

关键词： 俘获法 闪烁探测器 中子测量 俘获探测器

作者: 王玫 刘荣 蒋励 林菊芳 王大伦 励义俊 温中伟

作者单位: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 171-173,164

在线出版日期: 2002-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）