含小角晶界铜双晶中晶界裂纹与晶内裂纹尖端附近区域的位错结构观察
利用扫描电子显微镜—电子通道衬度(SEM—ECC)技术对经过对称拉—压疲劳的含小角晶界铜双晶体的晶界裂纹尖端以及晶内裂纹尖端附近区域的位错结构进行了观察,对于由晶界附近的裂纹源沿滑移带撞击晶界引发的晶界表面裂纹,其附近区域的位错结构分别对应于两晶粒各自的位错结构,在其尖端存在一微小的位错结构变形区,区内的位错结构近似于胞状结构.对于晶内由于形变带引发的裂纹尖端位错结构则为不规则的位错墙结构与胞状结构.
循环变形 铜双晶 裂纹尖端 位错结构 扫描电镜电子通道衬度
李勇 李守新 李广义
中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家实验室
国内会议
西安
中文
254-256
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）