Cu<,x>(Al<,2>O<,3>)<,1-x>颗粒膜的巨霍耳效应研究

摘要：

本文研究了Cu<,x>(Al<,2>O<,3>)<,1-x>颗粒系统的霍耳效应,发现在渗流阈值时,霍耳电阻比正常金属高3个数量级.进一步证明巨霍耳效应是金属-绝缘体颗粒构成的渗流系统的共性.

关键词： 霍尔效应 离子束共溅 化合物颗粒膜

作者: 高俊 蒋晓龙 倪刚 王飞 王志明 任尚坤 张凤鸣 都有为

作者单位: 南京大学固体微结构实验室(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国磁学和磁性材料会议

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 116-117

在线出版日期: 2002-11-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）