贮存10年的星用GaAs器件可靠性再评价

摘要：

本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性.

关键词： GaAs器件 可靠性快速评价 超贮存期 超期复验 宇航元器件 失效模式

作者: 黄杰 杜银波 徐立生 梁法国

作者单位: 信息产业部电子十三所(石家庄市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 264-266

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）