航天电子系统贮存寿命研究

摘要：

本文从航天电子系统贮存的实际情况出发,客观地分析了故障率对航天电子系统技术性能的影响,论证了以贮存可靠性为中心的贮存寿命研究的优越性和可行性,为航天电子产品贮存寿命的研究提供必要的方法和手段.

关键词： 航天电子系统 贮存可靠性 贮存寿命 故障率

作者: 查向武 姚春华 任金田

作者单位: 陕西省宝鸡市

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 153-155

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）