对获取全系统贮存可靠性寿命信息的途径分析

摘要：

本文以获取产品贮存可靠性寿命信息的途径进行了分析,归纳分类,从必要性、可行性、科学性、合理性等角度,指出各个途径的特点及目前存在的缺陷,根据我国的具体情况,提出当前应该抓紧解决的一些问题.

关键词： 电子产品 贮存寿命试验 弹载设备 可靠性

作者: 刘春和 李久祥 袁玉华

作者单位: 北京清河大楼子五

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 149-152

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）