长寿命试验自动检测技术实现及应用特点

摘要：

本文介绍了长寿命试验自动检测系统的应用背景;测试需求;系统的VXI总线硬件设计;测试应用软件的实现;系统构成及应用特点.

关键词： 长寿命试验 自动检测 VXI总线技术 卫星控制系统 电子元器件

作者: 钟伟 朱北园

作者单位: 航天科技集团公司第五研究院第五0二研究所(北京市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 144-148

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）