电子设备工艺可靠性技术探讨

摘要：

以引入电子设备工艺可靠性概念的基础上,介绍国内外工艺可靠性现状和常见的生产工艺,探讨电子设备工艺可靠性研究方法和工艺可靠性控制技术.

关键词： 电子设备 工艺可靠性 SPC控制技术 失效机理

作者: 罗志勇

作者单位: 信息产业部电子第五研究所可靠性工程中心(广州市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 75-79

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）