基于故障信息矩阵的测试点优选方法

摘要：

本文介绍了在某型飞机ATE系统设计的电路板级测试中,针对某实际电路的特征提出了一种基于故障信息矩阵的测试点优选方法,该测试点优选法对于数字电路故障诊断中的测试点优选有一定借鉴意义.

关键词： 数字电路 故障诊断 测试点 故障信息矩阵

作者: 周惠艳 石景波

作者单位: 北京航空航天大学自动化科学与电器工程学院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会控制与应用第十届学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 603-607

在线出版日期: 2002-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）