N—烷基壳聚糖溶致液晶

摘要：

本文合成了一系列具有不同取代基长度和取代度的N—烷基壳聚糖,并且对该体系作了较为详细的液晶性表征工作,尝试了用折射率法测定该系列溶致液晶的临界浓度.

关键词： N-烷基壳聚糖 溶致液晶 合成 折射率法 临界浓度测定

作者: 吴玉松 陈羚 黄剑莹 李珺 董炎明

作者单位: 厦门大学材料科学与工程系固体表明物理化学国家重点实验室(厦门)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国化学会第三届甲壳素化学与应用研讨会

会议地点: 浙江玉环

会议语种:中文

页码: 249-252

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）