ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量

摘要：

ZnO是近年来发展起来的近紫外发光材料.本实验通过反射和透射光谱测量方法来确定ZnO薄膜材料的禁带宽度和局域能级.

关键词： ZnO薄膜 光谱测量 禁带宽度 局域能级

作者: 傅竹西 林碧霞 何一平 廖桂红

作者单位: 中国科学技术大学物理系(安徽合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国固体薄膜学术会议

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 59-60

在线出版日期: 2002-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）