可测试性设计中的功耗优化技术
降低测试期间的功耗是当前学术界和工业界新出现的一个研究领域.在可测试性设计中进行功耗优化的主要原因是数字系统在测试方式的功耗比在系统正常工作方式高很多.测试功耗会引发成本增加,可靠性降低,成品率下降.文中首先介绍低功耗测试技术中的基本概念和功耗建模方法,分析测试过程中功耗升高的原因,对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行详细分析,最后指出低功耗测试技术的发展趋势和应解决的若干问题.
低功耗 测试 优化技术 可测试性设计
蒋敬旗
中国科学院计算技术研究所(北京)
国内会议
贵阳
中文
349-355
2002-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）