基于扫描测试的SOC测试方法

摘要：

扫描测试方法已经广泛应用于集成电路设计、制造领域.为了解决IP(Intelligent Property)内核测试和SOC(System-on-a-Chip)测试中遇到的测试时间和测试功耗的问题,提出了一整套基于扫描测试的SOC测试方法.实验结果表明该结构能够在测试时间和测试功耗约束下提供优化后的测试结构.

关键词： 测试接口 位通过率 扫描阵列 测试线 整数线性规划 系统级芯片测试

作者: 何虎 徐磊 孙义和

作者单位: 清华大学微电子所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国测试学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 491-498

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）