平均瞬态电流测试向量产生方法的研究

摘要：

本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(I<,DDT>)ATPG方法实现的主要困难,本文应用遗传算法,对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流测试I<,DDT>测试产生,产生无冒险的测试向量对,给出了ISCAS85、ISCAS89部分电路的实验结果.实验结果表明,对于规模较小且逻辑深度较小的电路,用此方法可以取得较好的结果.

关键词： 瞬态电流 测试生成 CMOS电路 固定开路故障 遗传算法

作者: 尤志强 牛小燕 闵应骅 张大方 邝继顺

作者单位: 湖南大学计算机与通信学院(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国测试学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 417-422

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）