FAN算法应用于瞬态电流测试产生的可行性研究

摘要：

基于对FAN算法的分析,本文在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.文中定义了三种不同的D前沿,并将测试产生分为三个部分:1)激活故障,2)使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化,3)减少旁路的影响.实验结果说明,在不考虑冒险的情况下,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的.

关键词： CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿

作者: 魏小芬 邝继顺

作者单位: 湖南大学计算机与通信学院(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国测试学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 394-400

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）