一种改进的RT级测试生成方法

摘要：

本文提出了一种改进的RT级测试生成方法,这种方法使用基于模拟的遗传算法,在使用基本块和基本块之间依存度概念的基础上对适应适函数(fitness function)作了改进,并在初始群体中增加了基于软件测试产生的个体.电路的描述使用VHDL描述语言.对ITC”99部分标准电路的测试生成结果显示了这种方法的有效性.

关键词： 遗传算法 VHDL RTL电路 测试生成 门级测试

作者: 熊志平 黄维康

作者单位: 复旦大学电子工程系(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国测试学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 88-92

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）