一个高故障覆盖率低成本内建自测试方案
本文提出了一个基于重复播种的新颖的BIST方案,它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩.通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间.实验表明,本方案需要外加硬件少,测试施加时间较短,而故障覆盖率高,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率.在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上,本文着重介绍了它的压缩存储硬件的方法,综合方法,和实验结果.
线性反馈移位寄存器 种子 随机向量难测故障 随意位 内建自测试
李立健 赵瑞莲
中国科学院自动化研究所,国家专用集成电路工程中心(北京) 北京化工大学,计算机科学与技术系(北京)
国内会议
上海
中文
59-65
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）