一款通用CPU中的Memory BIST设计
存储器内建自测试(Memory Built-In Self-Test,简称MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法.它通过把存储器测试逻辑做到芯片内部而使得原本复杂、耗时的测试过程变得简单易行,同时大大降低了测试成本.MBIST还可以与其它可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)技术如扫描设计(Scan Design)、边界扫描设计(Boundary Scan Design)等结合起来使用,进一步提高控制的灵活性.本文以一款通用CPU芯 片的MBIST设计为例 ,讲述了存储器的常用故障模型、march测试算法以及MBIST的一般结构,并给出了相关结果.
存储器内建自测试 故障模型 march算法 可测性设计
何蓉晖 李华伟 李晓维 宫云战
中国科学院计算技术研究所(北京)
国内会议
上海
中文
34-43
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）