基于后驱动故障注入的BIT验证试验技术探索

摘要：

如何验证和评价所设计的系统是否满足规定的BIT要求,是BIT设计中面临的一个重要课题.本文介绍了基于后驱动故障注入的BIT验证试验原理样机设计及实现,给出了原理样机初步验证试验结果.

关键词： 机内测试 故障注入 后驱动 航空电子系统 验证试验

作者: 朱万年

作者单位: 中国航空无线电电子研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会第六届航空通讯技术交流会

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 143-145

在线出版日期: 2002-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）