测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
本文通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响.ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:无论对于组合电路还是时序电路,随着测试向量中未确定位数目的增加,未优化测试功耗有明显的降低,同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法,它们的优化效果均有明显的改善.其中海明距离优化方法的优化效果改善最大,当未确定位数目增加到90﹪以上时,可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法,直接对CMOSVLSI时序电路测试功耗进行优化.
测试向量 测试功耗 功耗优化 海明距离 时序电路
骆祖莹 李晓维 杨士元 闵应骅
清华大学自动化系(北京) 中国科学院计算技术研究所(北京)
国内会议
上海
中文
310-315
2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）