大保实/G655光纤熔接的研究

摘要：

本文以长飞光纤光缆有限公司生产的大保实(LAPOSH)光纤和美国康宁公司生产的LEAF光纤为研究对象,通过对大量熔接实验结果的分析,得出了影响熔接头损耗的主要因素,并对如何获得好的熔接作了小结.

关键词： 光纤 熔接头损耗

作者: 韩庆荣 陈冬兰

作者单位: 长飞光纤光缆有限公司(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会2002年光缆电缆学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 112-116

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）