利用干涉图样确定晶体光轴取向

摘要：

本文理论分析了线偏光通过晶体时的双折射现象,由于等色线是围绕光轴的闭合曲线,故观察干涉条纹便可确定晶体是单轴或双轴并且确定光轴取向.

关键词： 线偏光 晶体双折射 等色线 晶体光轴

作者: 张降元 姚建铨

作者单位: 天津大学精密仪器与光电子工程学院激光与光电子研究所教育部光电信息技术科学开放实验室(天津)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002年全国光电技术学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 552-554

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）