热控涂层紫外、电子、质子综合辐照和α<,s>原位测量设备研制
(0) 北京卫星环境工程研究所研制一台可用于模拟热控涂层太阳吸收率退化的综合辐照试验设备(CRTF).该设备能够使Φ150mm面积同时接受低能电子、低能质子、紫外的辐照.该面积可安装19个Φ28mm样片,样片基座有冷却.电子用50KeV电子枪产生.质子辐照用50KeV质子源产生.质子源有E×B速度分析系统以确保质子纯度高于90﹪.近紫外源用汞氙灯加滤光片产生,最大辐照度可达六倍近紫外太阳常数.真空紫外用4只30W氘灯产生,每只灯可提供六倍真空紫外太阳常数.试片太阳吸收率通过单色仪和光纤系统可以进行原位测量.该设备采用低能带电粒子连续辐照,考虑真空紫外退化作用,采用退化原位测试技术,热控涂层模拟试验真实、可靠、成本低、周期短.本文还介绍了白漆热控涂层在紫外、电子、质子环境下α<,s>原位退化特性和回复效应.
热控涂层 电子辐照 质子辐照 紫外辐照 太阳吸收率 原位测量
冯伟泉 杨仲林 丁义刚 王存池 崔俊峰 阎德葵
北京卫星环境工程研究所
国内会议
黄山
中文
345-350
2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）