镀铝薄膜表面半球发射率测量
在航天器上广泛使用的镀铝薄膜表面具有极低半球发射率,它们的数值范围变化较大,约为0.03~0.10,采用通用标准方法,难以测准,本文介绍了高精度的测量方法与装置,精确测定了不同批次的国产与进口镀铝薄膜半球发射率,为航天器热分析计算与镀铝薄膜材料国产化,提供了准确数据,得出了结论意见.
镀铝薄膜 半球发射率测量 稳态法 瞬态测量法
程大义 徐济万
空间飞行器总体设计部(北京)
国内会议
黄山
中文
340-344
2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）