小能散X荧光分析仪长期工作稳定性的提高

摘要：

介绍了小能散X荧光分析仪长期工作稳定性的提高。该仪器峰位和计数率变化在计数率为(2～25)×10<”3>/s时，好于0.5℅。

关键词： 荧光分析仪 正比计数管 稳定性

作者: 童格后 陆炜忠 黄小健 陈新源

作者单位: 中国科学院上海原子核研究所(上海) 中国原子能科学研究院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 215～216

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）