成像无损检测中缺陷的分类与面积计算

摘要：

研究了无损检测中二维图像的结构特点,将缺陷按形状分为三类,即简单缺陷、凹陷缺陷、空洞缺陷,并对缺陷进行了严格的定义,同时,给出了基于边界点的缺陷面积计算公式.

关键词： 成像 无损检测 缺陷 面积计算

作者: 马宏伟

作者单位: 西安科技学院机械工程系(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第三届青年学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 212-213

在线出版日期: 2001-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）