边界扫描测试技术在印制板测试中的应用

摘要：

该文讨论了传统印制板测试技术的局限性，以及边界扫描测试技术应用于印制板测试所带来的影响。

关键词： 印制电路板 边界扫描测试技术

作者: 邱峰 梁松海

作者单位: 北京航天测控公司VXI系统部 清华大学微电子所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 76～82

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）