全自动在片直流测试技术对提高GaAS MMIC批量生产成品率的作用

摘要：

成品率高低是批量生产能否进行的关键。采用全自动在片直流测试，对参数进行统计分析，能判断成品率是否正常，并帮助找出影响成品率的原因。该文介绍了行之有效的测试统计和分析技术。

关键词： 成品率 在片测试

作者: 吴振海 郝西萍 蒋幼泉 陈新宇

作者单位: 南京电子器件研究所(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国化合物半导体.微波器件和光电器件学术会议

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 444～447

在线出版日期: 2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）