二次离子质谱研究低能离子注入生物体的深度和浓度分布

摘要：

本文主要介绍和讨论使用SIMS.SEM.MS.ICP和x射线能谱等技术对低能重金属离子注入生物体进行深度和浓度测试,重点讨论分析方法带来的问题.通过研究表明SIMS对离子注入生物体进行深度分析和测定,完全可以排除分析方法带来的误差,完成注入离子的深度定标和浓度分布测试.

关键词： 生物体 低能重金属离子 深度定标 浓度分布

作者: 刘肇萌 郝永传 胡克昌 李毅 张志萍

作者单位: 天津半导体技术研究所 天津市理化分析中心 天津师范大学物理系 天津市药品检验所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国质谱学会第七届学术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 107-108

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）