会议专题

液相外延Gd-Bi-Ga:YIG单晶薄膜

该文介绍了PbO-bI<,2>O<,3>-B<,2>O<,3>熔剂中,在钆镓石榴石(3G)基片上,利用液相外延(LPE)等温浸渍技术,制备出了适用于静磁波器件的Gd-Bi-Ga:YIG单晶薄膜,研究了薄膜的损耗和温度特性,结果表明掺杂Gd-Bi-Ga:YIG的温度稳定性比纯YIG有明显提高(提高约15℅):在4.5-6.5GH<,z>下的延迟线腔中测试,其最小插损为5-6dB,较好地满足了器件的要求,并对影响薄膜生长及性能因素作了分析讨论。

液相外延 等温浸渍技术 薄膜生长

许小文 魏洪顼

中国西南应用磁学研究所(四川绵阳)

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2000-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)