快中子溅射引起的辐照缺陷的实验测量
用单能慢正电子方法研究材料在快中子束辐照下其性能将产生变异现象,发现快中子辐照在金属中产生空位型缺陷.单能慢正电子束是研究快中子引起的溅射所产生的辐照缺陷的有效手段,研究发现正表面近表面区域得空位型缺陷浓度大于体内的浓度,而且正表面的空位型缺陷明显大于背面.与溅射理论与实验结果一致.
单能慢正电子方法 金属晶体缺陷 快中子辐照 空位型缺陷
叶邦角 叶祖欣 翁惠民 范扬眉 周先意 韩荣典
中国科学技术大学近代物理系核固体物理实验室
国内会议
宜昌
中文
32-37
2002-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）