用双探头正电子湮没辐射多普勒展宽装置研究金属中高动量电子的行为

摘要：

采用双探头符合技术,可大幅度地降低正电子湮没辐射多普勒展宽谱的本底,谱线的本底跟样品与高纯锗探头之间的距离有关:增加距离,可以降低谱线的本底,谱线的本底越低,以单晶Al为参考作出的Ni的商谱越高.元素周期表中第四行过渡元素Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu的商谱的谱峰随原子的3d电子数目的增多而升高,从过渡元素的商谱可获得正电子与原子的3d和3p电子湮没的信息.

关键词： 正电子湮没 符合技术 本底 3d电子 晶体缺陷 金属元素

作者: 邓文 中国科学院国际材料物理中心(沈阳) 黄宇阳 吴道宏 罗里熊 熊良钺 中国科学院国际材料物理中心(沈阳)

作者单位: 广西大学物理系(南宁) 中国科学院金属研究所(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国正电子谱学会议

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 27-31

在线出版日期: 2002-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）