YBaCuO光掺杂效应的正电子寿命谱研究

摘要：

本文利用正电子寿命谱技术对光掺杂的半导体材料YBCO样品进行系列实验研究,报道了部分实验结果,讨论了光掺杂机理.

关键词： 半导体材料 光掺杂效应 正电子寿命谱

作者: 李喜贵 刘英豪 路庆凤 程国生 李喜玲 宋秀春

作者单位: 河南师范大学 河南许昌市11中学 河南许昌市高等职业技术学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国正电子谱学会议

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 70-72

在线出版日期: 2002-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）